国家知识产权局信息显示，西南科技大学、电子科技大学、相速光电科技（成都）有限公司申请一项名为“一种基于光学探测微波热致声波信号的场强测试系统”的专利，公开号CN121385440A，申请日期为2025年9月。

　　专利摘要显示，本发明提出一种基于光学探测微波热致声波信号的场强测装置，属于脉冲微波测试测量技术，脉冲微波源脉冲微波照射到传感器上面，传感器上的微波吸收介质吸收微波能量发生局部升温，进而引起热膨胀并产生超声波信号，即微波热致声波信号，微波热致声波信号通过耦合介质并被基于光学的声学探测器探测，采集设备根据该信号的幅值大小、频谱特性和时域波形，可以反演得出入射脉冲微波的场强和脉宽信息。相比于传统的基于探针式的微波场强测试方法，本发明中提出基于光学的方法来探测微波热致声波信号，进而实现场强测试，不会对微波场本身分布造成影响，也不会将脉冲微波信号直接引入采集设备中，是一种抗电磁干扰，高信噪比的场强测试方法。

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